半导体金相显微镜振片校正的方法：

　　半导体金相显微镜是用于研究所谓通明与不通明各向异性质料的一种显微镜，在地质学等理工科专业中有紧张使用。凡具有双折射的物资，在偏鲜明微镜下就能分辨的清楚，固然这些物资也可用染色法来举办观察，但有些则不行用，而务必利用偏鲜明微镜。反射偏鲜明微镜是利用光的偏振特征对具有双折射性物资举办研究鉴定的必备仪器，可供恢弘用户做单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察。偏鲜明微镜被广泛地使用在矿物、高分子、纤维、玻璃、半导体、化学等领域。

　　半导体金相显微镜校正振片的方法：在实际操作中，偏正显微镜高低偏振镜的振动方向要互相正交，或东西和南朔方向，各自与目镜十字丝的横、纵方向一致。偶然只用一个下偏振镜来观察，务必断定下偏振镜的振动方向，所以操作时务必对偏振镜举办校正。1.目镜十字丝的检验一般要检查目镜十字丝是否正交，以及是否与高低偏振镜振动方向一致，同时选一块解理和清楚的黑云母，移至目镜十字丝的中心，将解理缝平行于十字丝的一根丝，记下载物台的刻度数，再转动载物台使解理缝平行于另一十字丝，记下载物台的刻度数，两个刻度数之差为90°，介绍十字丝正交。